磁性测量原理，主要用于测量磁性金属基体上的非磁性涂层厚度。磁性金属基体表面的涂层厚度和磁阻和磁通之间有一定的关系。就是利用这个关系计算磁性金属基体表面的涂层厚度。利用测头经过非磁性涂层流入磁性金属基体的磁通量大小来测量涂层厚度。

涡流测量原理，简单地说是高频交流信号在探头线圈中产生电磁场，探头靠近导体(通常是金属)时形成涡流。漩涡的大小与探头和导电基体之间的距离有电磁感应关系，探头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗也越大。探头离导电基体越远，涡流越小，反射阻抗也越小。因此，该值直接显示探头与导电基体之间的距离，即涂层的厚度。这种非磁性探头通常使用高频材料作为线圈铁芯，与上面的测量原理和最大的区别是探头差异、信号频率差异、信号大小和标度关系不同。